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产品介绍:
COC老化测试系统是高密度、多功能、专门针对半导体激光器芯片老化寿命验证的测试系统。采用系统框架及分立抽屉形式架构，通过集成多通道驱动电源、温度控制控、实时监控数据采集、测试夹具抽屉，显著降低了系统成本。专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的COC（Chip on Carrier）、COS（Chip on Substrate）以及TO-CAN各种封装类型的半导体激光器，不同的器件类型，只需要更换不同抽屉（或者测试夹具）
