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本设备主要应用于APD芯片在温控情况下，暗场0-60V电压扫描，测试暗电流、测试CV曲线。光场0-60V电压扫描，测试光电流，计算响应度、增益、带宽值。可实现光敏面/电极同侧测试，或光敏面背面、电极在正面等不同侧测试。测试环境为双温（常温+高温），测试载台可实现快速升降温，温控方便稳定，测试数据的再现性（重复性）良好。

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