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LQ-BI114 COC 老化测试设备
行业类别：
激光技术及智能制造展
产品范围：
机器人及工业自动化
应用领域：
半导体加工/制造
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产品介绍:
LQ-BI114 是专门针对 COC 器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构，载具采用可分离式“抽屉”形式，每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口，可根据不同产品设计不同载具在同一测试平台内测试。
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