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LD 芯片测试设备（常高温）
行业类别：
信息通信展
产品范围：
光通信传输设备
应用领域：
光通信、信息处理/存储
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HS-LDTS2000 是一款用于光电生产企业的LD芯片光电性能检测，可测试长波长激光器芯片的常温、高温条件下的前光、背光的LIV参数和光谱参数，设备自动化程度高，图像算法智能，支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别，有利于生产企业提高测试效率，提高产品的品质把控。
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