插回损测试仪 RLM-100

插回损测试仪（RLM-100）汇集了20年作为电缆组件测试市场领导者的行业反馈。该设备代表了下一代光学IL/RL测量技术。对关键硬件组件的改进使其在保持相同精度的同时，测试速度比其他高端测试解决方案快两倍。
一种新的专利校准方法允许用户进行自校准，并能够以更高的精度测量单模反射损耗，最高可达85 dB。由于其前面板触摸屏和易于使用的软件，RLM-100非常适合生产和实验室环境。

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