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光电器件有损分析

行业类别:
精密光学展&摄像头技术及应用展
产品范围:
其他,请注明||检测分析
应用领域:
先进制造,半导体加工/制造,照明/显示

产品图片:

产品介绍:

光电器件有损分析,包括Decap、金相研磨、EMMI/OBIRCH、FIB、SEM、TEM等。

展商信息: