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利用先进技术，能精准定位和定量测量光学材料内部的气泡、包裹体等缺陷，提供可靠数据支撑。系统由主体核心设备和遮光罩柜体构成，采用532nm激光，搭配7倍变倍比镜头，检测灵敏度高，误差小，全口径范围内原位测量分辨率优于1μm。此外，导轨行程大，重复定位精度高，洁净度达局部ISO6标准，为光学材料高质量制备保驾护航。

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