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晶圆缺陷检测设备（AOI）
行业类别：
新型显示技术展
产品范围：
其他，请注明||新型显示量检测
应用领域：
半导体加工/制造
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产品介绍:
针对晶圆来料过程，出货检查，可检刮伤、污渍、剥落、破碎等不同缺陷；并以面积长、宽、大小比率、特定灰度值，特定坐标进行分类。
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